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天星渦流測(cè)厚儀ED400用于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度， 以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張的厚度。

采用電渦流原理，當(dāng)探頭與試樣接觸時(shí)，探頭線圈產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng)會(huì)在基體金屬表面感應(yīng)出渦電流，此渦電流產(chǎn)生的附加電磁場(chǎng)會(huì)改變探頭線圈參數(shù)， 而探頭線圈參數(shù)改變量的大小則決定與涂層厚度相關(guān)的探頭到基體之間的距離。渦流測(cè)厚儀ED400在校正之后通過(guò)對(duì)探頭線圈參數(shù)改變量的測(cè)量，經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)處理，就可得到覆蓋層的厚度值。

一、按鍵說(shuō)明：

電源—電源開(kāi)關(guān)鍵 。用于開(kāi)啟或關(guān)閉電源。

統(tǒng)計(jì)—統(tǒng)計(jì)鍵。用于順序讀取一組測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和測(cè)量次數(shù)。

清除—?jiǎng)h除鍵。 用于刪除當(dāng)前測(cè)量值或一個(gè)校正步驟。

校正—校正鍵 。用于校正儀器。

“ "—下調(diào)鍵 。在校正狀態(tài)時(shí)，用于將顯示值調(diào)低。

" "—上調(diào)鍵。在校正狀態(tài)時(shí)，用于將顯示值調(diào)高，組合鍵一兩個(gè)按鍵配合使用可得到新功能，如下表：

注：組合鍵的使用方法，按住組合鍵松開(kāi)。儀器顯示"-一 " 之后顯示 "O" 或 "00" , 功能設(shè)定完成。

按電源開(kāi)關(guān)鍵，接通電源，儀器開(kāi)始執(zhí)行自檢程序，顯示所有符號(hào)后發(fā)出一聲?shū)Q音，顯示 " O" 或 " O. O" 。儀器進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，此時(shí)可直接進(jìn)行測(cè)量操作。

二、操作步驟：

1、測(cè)量：

手持探頭的塑料部分，將探頭平穩(wěn)、垂直的落到清潔、干燥的試件上，儀器鳴叫一聲，顯示出膜厚值（測(cè)量時(shí)用力不要過(guò)大，以免損傷探頭）。抬高探頭，重新落下，可完成下一次測(cè)量。探頭抬高的高度應(yīng)大于10mm,  持續(xù)時(shí)間應(yīng)大于2秒鐘。一般每一測(cè)量點(diǎn)應(yīng)測(cè)量 5-10次，然后讀取統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

2、統(tǒng)計(jì)：

按動(dòng)統(tǒng)計(jì)鍵可依次循環(huán)顯示以下統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)：

MEAN—平均值

MAX—最大值

MIN—最小值

S — 標(biāo)準(zhǔn)偏差

N — 測(cè)量次數(shù)

再次測(cè)量時(shí)，可直接進(jìn)入下一組測(cè)量數(shù)據(jù)。

3、刪除：

在測(cè)量過(guò)程中，如果因?yàn)樘筋^放置不穩(wěn)或其它原因，出現(xiàn)了一個(gè)明顯錯(cuò)誤的測(cè)量值，可按動(dòng)刪除鍵將其刪除，不計(jì)入統(tǒng)計(jì)。天星渦流測(cè)厚儀ED400在校正狀態(tài)下，按動(dòng)一次刪除鍵可刪除最后一個(gè)測(cè)量值，按動(dòng)兩次刪除鍵可刪除此校正步驟所有測(cè)量值。